INGUN GKS-100 214 050 A 2000 - หัวโพรบทดสอบ (Test Probe) สำหรับงานอิเล็กทรอนิกส์

INGUN GKS-100 214 050 A 2000 คือ หัวโพรบทดสอบ (Test Probe) ที่ผลิตโดย INGUN (อิงกุน) ซึ่งเป็นผู้ผลิต Test Probe และ Test Fixture ชั้นนำระดับโลกจากประเทศเยอรมนี หัวโพรบเหล่านี้เป็นส่วนประกอบสำคัญในอุปกรณ์ทดสอบอัตโนมัติ (ATE - Automatic Test Equipment) หรือ Test Fixture ที่ใช้ในการทดสอบแผงวงจรพิมพ์ (PCB) และชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ต่างๆ

รหัส GKS-100 214 050 A 2000 บ่งบอกถึงคุณสมบัติเฉพาะของหัวโพรบรุ่นนี้:

• GKS-100: เป็นรหัสซีรีส์ของหัวโพรบ ซึ่งบ่งบอกถึงขนาดมาตรฐานและความเข้ากันได้กับซ็อกเก็ต (Socket) หรือตัวรับ (Receptacle) ที่ใช้

• 214: บ่งบอกถึงประเภทของหัวสัมผัส (Tip Style) หรือรูปแบบการออกแบบเฉพาะ

• 050: บ่งบอกถึงขนาดเส้นผ่านศูนย์กลางของหัวโพรบ (Probe Tip Diameter) ในหน่วยมิลลิเมตร หรือหน่วยอื่นที่เกี่ยวข้อง (ในที่นี้คือ 0.50 มม.)

• A 2000: บ่งบอกถึงแรงสปริง (Spring Force) หรือระยะสปริงของโพรบ

หัวโพรบของ INGUN ได้รับการยอมรับในด้านความแม่นยำสูง ความทนทาน และความน่าเชื่อถือ ทำให้เหมาะสำหรับงานทดสอบที่ต้องการผลลัพธ์ที่แม่นยำและสม่ำเสมอ

คุณสมบัติเด่น

• ความแม่นยำสูง (High Precision): ออกแบบมาเพื่อสร้างการสัมผัสทางไฟฟ้าที่แม่นยำกับจุดทดสอบ (Test Point) บนแผงวงจรพิมพ์หรือชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ แม้ในจุดที่เล็กมาก

• แรงสปริงคงที่ (Consistent Spring Force): มีสปริงภายในที่ให้แรงกดคงที่เมื่อสัมผัสกับจุดทดสอบ ซึ่งสำคัญต่อการได้ผลการทดสอบที่เชื่อถือได้และป้องกันความเสียหายต่อ PCB

• วัสดุคุณภาพสูง: ผลิตจากวัสดุที่ทนทานต่อการสึกหรอและการกัดกร่อน เช่น ทองเหลืองชุบทอง, ทองคำขาว, หรือวัสดุเฉพาะของ INGUN เพื่อยืดอายุการใช้งานและรักษาประสิทธิภาพการนำไฟฟ้า

• หัวสัมผัสหลากหลาย (Diverse Tip Styles): หัวโพรบมีให้เลือกหลายรูปแบบ เช่น หัวแหลม (Pointed), หัวมน (Spherical), หัวแบน (Chisel), หัวมงกุฎ (Crown), หรือหัวเลื่อย (Serrated) เพื่อให้เหมาะสมกับพื้นผิวและลักษณะของจุดทดสอบที่แตกต่างกัน

• ติดตั้งและเปลี่ยนง่าย: ออกแบบมาให้สามารถติดตั้งเข้ากับ Test Fixture หรือ Receptacle ได้ง่าย และถอดเปลี่ยนได้รวดเร็วเมื่อเกิดการสึกหรอ

• ความน่าเชื่อถือสูง: เหมาะสำหรับการทดสอบปริมาณมากในสายการผลิตที่ต้องการความเสถียรและลด Downtime

• รองรับการทดสอบหลากหลายประเภท: ใช้ได้ทั้งการทดสอบวงจร (In-Circuit Test - ICT), การทดสอบฟังก์ชัน (Functional Test - FCT), และการทดสอบแรงดัน/กระแส

การใช้งานที่แนะนำ

• การทดสอบแผงวงจรพิมพ์ (PCB Testing): ใช้ในการตรวจสอบความถูกต้องของการประกอบแผงวงจร, ความต่อเนื่องของวงจร, และการทำงานของส่วนประกอบต่างๆ

• การทดสอบชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ (Component Testing): ใช้ในการทดสอบประสิทธิภาพและคุณภาพของชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์แต่ละชิ้น

• อุปกรณ์ทดสอบอัตโนมัติ (ATE): เป็นส่วนประกอบหลักในเครื่องจักรทดสอบอัตโนมัติที่ใช้ในสายการผลิตอิเล็กทรอนิกส์

• การควบคุมคุณภาพ (Quality Control): ใช้ในการตรวจสอบคุณภาพของผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์ในขั้นตอนต่างๆ ของการผลิต

• งานซ่อมแซมและบำรุงรักษา: สำหรับช่างเทคนิคที่ต้องการทดสอบวงจรหรือชิ้นส่วนในอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์

ข้อมูลทางเทคนิค (สำหรับ INGUN GKS-100 214 050 A 2000 โดยประมาณ)

• ชื่อสินค้าเต็ม: INGUN GKS-100 214 050 A 2000 Test Probe

• แบรนด์: INGUN (อิงกุน)

• รุ่น/ซีรีส์: GKS-100 (ซีรีส์มาตรฐานสำหรับโพรบทดสอบ)

• ประเภท: Spring Contact Probe (หัวโพรบแบบสปริง)

• เส้นผ่านศูนย์กลางของหัวโพรบ (Tip Diameter): 0.50 มม. (อ้างอิงจากรหัส 050)

• รูปแบบหัวสัมผัส (Tip Style): 214 (บ่งบอกถึงรูปแบบเฉพาะของหัวสัมผัส เช่น หัวแหลม, หัวมงกุฎ, หรืออื่นๆ)

• แรงสปริง (Spring Force): A 2000 (อาจหมายถึงแรง 2.00 N หรือ 200 gf หรือตามมาตรฐานของ INGUN)

• กระแสไฟฟ้าสูงสุด (Rated Current): มักจะอยู่ที่ประมาณ 1.0 A - 3.0 A (ขึ้นอยู่กับรุ่นย่อยและวัสดุ)

• ความต้านทานหน้าสัมผัส (Contact Resistance): ต่ำ (เช่น <50 mΩ)

• ระยะการเคลื่อนที่ของสปริง (Working Stroke): โดยทั่วไปประมาณ 4.0 - 5.0 มม.

• วัสดุ: ทองเหลืองชุบทอง (Gold-plated Brass) หรือวัสดุอื่น ๆ ที่เหมาะสม